超快C-V测量模块  

出　　处：《今日电子》2010年第4期68-68,共1页Electronic Products

摘　　要：4225PMU超快I-V测试模块进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流／电压测量功能，实现了业界极宽的电压、电流和上升／下降／脉冲时间动态量程，大大提高了系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力。同样重要的是，利用4225-PMU可以像进行直流测量那样，轻松实现超快的I-V源和测量操作。

关 键 词：测量模块 4200-SCS 测试模块 测量功能 波形发生 测试环境 时间动态 直流测量 

分 类 号：TM935.3[电气工程—电力电子与电力传动]