不同载气下气体相对电离度的光谱诊断  

Spectroscopic diagnosis of the relative ionization depth with different buffer gases

作　　者：邵旭萍[1,2] 龚天林[2] 陈艳[1] 陈景霞[1] 陈扬骎[1] 杨晓华[1] 

机构地区：[1]精密光谱科学与技术国家重点实验室,华东师范大学物理系,上海200062 [2]南通大学理学院,南通226007

出　　处：《物理学报》2010年第3期1677-1680,共4页Acta Physica Sinica

基　　金：国家自然科学基金(批准号:10574045);国家重点基础研究发展计划(批准号:2006CB921604);上海市自然科学重点项目(批准号:07JC14017和07DZ22025);精密光谱科学与技术国家重点实验室资助的课题~~

摘　　要：利用速度调制光谱技术,以N2+为分子探针,研究了N2在不同缓冲气体(氦和氖)下的电离行为.N2+某一振转吸收谱线的强度与速度调制的调制度和N2+浓度成正比,因而通过测量两种缓冲气体下光谱强度,即可推算出相对电离度.Using N~＋_2 as the molecular probe, we investigate the ionization behavior of the nitrogen molecule buffered in different rare gases （helium and neon） by optical heterodyne velocity modulation spectroscopy . The spectral intensity of an individual rovibronic line of N~＋_2 is propor tional to the product of the velocity modulation index and the concentration of N~＋_2. Therefore, the relative ionization depth can be deduced viameasuring the spectral intensity in different buffer gases.

关 键 词：速度调制 调制度 电离系数 等离子体诊断 

分 类 号：O536[理学—等离子体物理] O562.3[理学—物理]