基于pCTL的循环优化测试用例自动生成方法  

Automatic Generation of Test Cases for Loop Optimizations Based on pCTL

作　　者：余侠[1,2] 薛云志[3,2] 陶秋铭[3,2] 

机构地区：[1]中国科学院软件研究所基础软件国家工程研究中心,北京100080 [2]中国科学院研究生院,北京100080 [3]中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室,北京100080

出　　处：《小型微型计算机系统》2010年第3期436-440,共5页Journal of Chinese Computer Systems

基　　金：国家"八六三"高技术研究发展计划项目(2007AA010601;2006AA010201)资助

摘　　要：循环优化测试对保证现代编译器质量有着重要作用.传统手工构造测试用例方法面临着效率低的问题,而目前的自动构造方法对循环优化的针对性不足.提出并实现了一种基于参数化分支时序逻辑(pCTL)的循环优化测试用例自动生成方法.并用生成的测试用例对GCC-4.1.1进行覆盖率测试,结果表明该方法可以生成具有很高针对性的循环优化测试用例,并且很少的测试用例即可达到较高的覆盖程度.Test for loop optimizations is vital to modern compiler quality.However,test cases coded by hand result in low productivity,and the automatic generation of test cases is lack of accuracy for loop optimizations.Therefore,we suggest an automatic generation of test cases for loop optimization base on parameterized conditional temporal logic（pCTL）.Experiments on coverage testing of gcc-4.1.1 show that we can generate test cases with accuracy for specific loop optimizations,and certain coverage is achieved by employing only a few test cases.

关 键 词：pCTL 循环优化 测试用例生成 覆盖率 

分 类 号：TP311[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]