检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:赵才军[1] 蒋全兴[1] 何鹏[1] 邬昌峰[1]
机构地区:[1]东南大学电磁兼容研究室,江苏南京210096
出 处:《计量学报》2010年第2期160-164,共5页Acta Metrologica Sinica
基 金:国家自然科学基金(50277007)
摘 要:基于反射法理论提出了一种使用矢量网络分析仪测量集总参数元件阻抗的方法,引入阻抗匹配电路,拓宽了矢量网络分析仪的阻抗测量范围。通过对匹配电路二端口网络模型中参量A的分析,给出相应的被测元件的阻抗计算式,消除了夹具对测量结果的影响。采用矢量网络分析仪直接测量法和该阻抗测量法分别测量了5种不同阻值的金属膜电阻,结果表明,该阻抗测量方法的测量精度高于矢量网络分析仪直接测量的精度,可在30kHz-100MHz频率范围内实现几欧至千欧阻抗的精确测量。Based on the reflection method theory, a method to measure impedance of lumped elements using a vector network analyzer (VNA) is presented. An impedance matching circuit is introduced to extend the impedance measurement range of VNA. The mathematic expression for calculating the impedance of a device under test (DUT) is obtained by analyzing ' A' parameter of two-port network model in the circuit, and the influence from the jig is eliminated. Five types of metal film resistors, which are classified by their resistance, are tested by both direct measurement using a VNA and the method presented. The results show that this method has higher accuracy than the direct measurement method and can accurately determine the impedance from several ohms to thousand ohms in the frequency range of 30 kHz to 100 MHz.
关 键 词:计量学 阻抗测量 反射法 矢量网络分析仪 阻抗匹配电路
分 类 号:TB973[一般工业技术—计量学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:18.119.100.196