用X射线衍射仪法测定纯铜点阵常数  

Application of X Ray Diffractometer Method Determines the Lattice Constant of Pure Cu

作　　者：陈高恩[1,2] 薛殿麒 郭承铭 

机构地区：[1]长城特殊钢公司 [2]中南民族学院物理系

出　　处：《中南民族学院学报（自然科学版）》1998年第4期27-31,共5页Journal of South-Central University for Nationalities(Natural Sciences)

摘　　要：用Ｘ射线衍射仪法对光谱纯铜进行了点阵常数的精确测定，给出了测定值．从实验技术方面进行了分析阐述，为金属材料研究和大学近代物理实验选题提供了参考．In this paper,we apply X ray diffractometer method to determine the crystal space lattice constant of spectrum pure metallic copper Cu accurately.This paper expounds items of experiment technology.

关 键 词：X射线衍射 晶面指数 点阵常数 纯铜 铜 测定 

分 类 号：TG146.11[一般工业技术—材料科学与工程] TG115.22[金属学及工艺—金属材料]