X荧光测厚仪研究  

X-ray Coating Thickness Research

作　　者：王强兵[1] 

机构地区：[1]深圳市计量质量检测研究院,广东深圳518055

出　　处：《计量与测试技术》2010年第3期30-31,共2页Metrology & Measurement Technique

摘　　要：本文介绍X射线荧光测厚仪工作原理及校准时的不确定度分析。

关 键 词：X射线荧光测厚仪 不确定度 

分 类 号：TH821.1[机械工程—仪器科学与技术]