CdZnTe化合物半导体探测器在X射线荧光技术中的应用  

作　　者：孙雪[1] 罗耀耀[1] 焦欢欢[1] 李业强[1] 

机构地区：[1]成都理工大学核技术与自动化工程学院

出　　处：《科学咨询》2010年第4期91-91,共1页

摘　　要：本文主要介绍CdZnTe探测器,及其在X射线荧光技术中的应用研究。XRF能谱分析的关键是能谱的峰位和净强度,进行能谱解析即是要正确识别谱峰、确定峰位和本底,从而说明CdZnTe探测器能够代替NaI(Tl)、Si(Li)、HpGe等传统探测器而应用于X射线荧光技术的实用性。

关 键 词：CdZnTe探测器 X射线荧光技术 XRF能谱分析 传统探测器 

分 类 号：O611.6[理学—无机化学]