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作 者:高欣[1] 杨生胜[1] 王云飞[1] 冯展祖[1] 李凯[1]
机构地区:[1]真空低温技术与物理国家级重点实验室,中国空间技术研究院兰州物理研究所,兰州730000
出 处:《宇航学报》2010年第3期931-935,共5页Journal of Astronautics
基 金:真空低温技术与物理国家级重点实验室基金(9140C5503060802);国家高技术研究发展计划项目(2007AA042431)
摘 要:研究MEO轨道Si太阳电池在轨性能衰减规律,为太阳阵设计提供参考依据。利用位移损伤剂量的方法,研究了电子辐照对Si太阳电池性能参数的影响,并分析了MEO轨道(高度20,000km,倾角56°)的电子和质子辐射环境,及其穿过不同厚度的石英玻璃盖片后的衰减谱。研究发现,在没有玻璃盖片的情况下,MEO轨道一年期质子通量会造成电池最大输出功率严重衰退,约为初始值的28%,而一年期电子通量影响很小,仅造成约7%的下降。使用100μm的石英玻璃盖片几乎可以完全阻挡MEO轨道质子辐射的影响,但是对电子辐射的阻挡作用很小。石英玻璃盖片对于屏蔽低能质子对电池辐照损伤是极其重要的。The effects of MEO radiation environments on the degradation of Si cells are studied to provide the references for solar array design. The displacement damage dose methodology for analyzing and modeling the performance of Si solar cells with various thicknesses of silica coverglass in a Medium-Earth-Orbit (Altitude 20,000 km,Inclination 56°) radiation environment is presented. The max power of the cells will be seriously degraded to 28% of the initial max power by the accumulating proton fluence in 1-year-mission,while in the case of electron,a degradation of about 7% can be observed. Degradation at different electron energies has been correlated with displacement damage dose (Dd). A 100μm thick silica coverglass can nearly block off the effects of proton on the Si cells in the MEO environment,but it is not evident for the effects of electron on the cells. The use of the coverglass is vital important for shielding the damages by low energy proton.
分 类 号:V520.6[航空宇航科学与技术—人机与环境工程]
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