X射线荧光分析在测定浮法玻璃表面渗锡量中的应用  

作　　者：金明坤[1] 

机构地区：[1]蚌埠玻璃工业设计研究院,蚌埠市233018

出　　处：《玻璃》1998年第6期11-15,20,共6页Glass

摘　　要：从理论和实验两方面论述了应用XRF测定浮法玻璃表面含锡量的可行性；并提出了测定浮法玻璃表面总含锡量的方法。

关 键 词：浮法玻璃 表面渗锡 X射线 荧光分析 渗锡量 

分 类 号：TQ171.721[化学工程—玻璃工业] TQ171.12[化学工程—硅酸盐工业]