检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]北京特种车辆研究所,北京100072 [2]装甲兵工程学院,北京100072 [3]装甲兵技术学院,吉林长春130117
出 处:《计算机测量与控制》2010年第4期741-742,762,共3页Computer Measurement &Control
基 金:国家自然科学基金项目(60871029)资助
摘 要:电子系统的发展对其测试与故障诊断提出了更高的要求;边界扫描技术为芯片级、电路板级以致系统级测试提供了一套高效的标准化手段,但其应用也增加了电路的复杂性;以某电路板级系统为原型,进行了基于边界扫描的测试设计,构建了边界扫描测试系统;将贪婪策略应用于测试性优化设计中,通过置换简化、定性分离等方法,综合权衡设计复杂性和测试性改善;在互连测试实验中得到的结果与注入的故障模型相符,说明利用边界扫描机理能够准确地定位故障,得到了预期结果。With the development of electrical system, the test and fault diagnoses become more and more important. The boundary scan technology is a standardized and effectual method for circuits' test, inevitably, the implementations increase the CUT's (circuit under test) complexity. This paper proposed a boundary test system and optimize design for test based on greed strategy. The complexity of design and test efficiency are weighed. According to the consistency between the experiment results and the fault model which injected into the CUT, we can concluded that the boundary scan technology can precisely locate the fault, and fulfill the expectations.
分 类 号:TP206[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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