正温度系数热敏电阻（PTCR）特性参数快速测试仪  

作　　者：舒庆[1] 孟陆强[1] 

机构地区：[1]东南大学电子工程系

出　　处：《上海微电子技术和应用》1998年第1期13-16,共4页

摘　　要：本文介绍了一种快速测量正温度系数热敏电阻（ＰＴＣＲ）的重要参数（居里温度Ｔｃ和电阻温度系数αｔ）的测量方法，并根据这种方法设计了ＰＴＣＲ特性参数Ｔｃ，αｔ快速测试仪，该仪器的使用改变了传统测试方法时间长，工作量大的状况。通过测量ＰＴＣＲ在室温和两个特征温度下的电阻值，该仪器能很快计算并显示出Ｔｃ和αｔ的结果，大大提高了测试效率，该仪器以８０３１单片机系统为核心，简单实用，使用方便，成本低。

关 键 词：正温度系数 热敏电阻 居里温度 电阻温度系数 

分 类 号：TN373.07[电子电信—物理电子学]