基于LM20测头的接触式干涉仪智能化改造  

Intelligentized Reconstruction of Contact Type Interferometer Based on LM20 Probe

作　　者：古耀达[1,2] 郭彤[2] 高顺民[2] 黄志斌[1] 

机构地区：[1]广州市计量检测技术研究院,广东广州510030 [2]天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津300072

出　　处：《现代科学仪器》2010年第2期21-23,共3页Modern Scientific Instruments

基　　金：国家质检总局科技计划项目(2008QK260);广东省科技攻关项目(2009B010900024)

摘　　要：目前,大多数省级计量部门用于省内长度量块最高标准传递所使用的接触式干涉仪,均是六、七十年代设计生产的产品,存在诸多缺陷。本文介绍一种在稳定的机械结构基础上,用LM20测头代替原干涉仪测头,利用Delphi开发控制界面,建立控制箱和计算机的通信机制,从而控制测头上下移动,能智能化读取干涉仪数据并具有良好稳定性的量块检定方法。At present the majority of contact interferometers,which are used for the highest standards delivery of measurement of gauge block length in most provinces,are produced from the sixties and the seventies,including many shortcomings.This paper introduces an advanced method of Gauge block verification.In this system,LM20 interferometer probe takes the place of the original probe and Delphi control interface is used.The control machine based on a stable mechanical structure communicates with computer to make the probe move up and down freely,and to get the test data intelligently and stability.

关 键 词：接触式干涉仪 LM20测头 Delphi控制界面 量块检定 

分 类 号：TH744.3[机械工程—光学工程]