基于FAN算法的串扰时延故障的测试矢量生成  

Test Pattern Generation for Crosstalk-induced Delay Faults Based on FAN Algorithm

作　　者：梁晓琳[1] 

机构地区：[1]湖南科技学院电子工程系,湖南永州425100

出　　处：《湖南科技学院学报》2010年第4期53-54,27,共3页Journal of Hunan University of Science and Engineering

摘　　要：串扰噪声已成为在深亚米工艺下造成电路功能错误的一个主要原因,对串扰时延测试已成为一个迫切的问题。利用FAN算法完成串扰时延故障的测试矢量生成,并且利用其多路回退和回溯等主要特色,来提高测试生成算法的效率。With deep submicron technology,crosstalk noise becomes the major cause of mistakes on circuit function.It is a pressing issue on testing of crosstalk-induced delay faults.This paper uses the FAN algorithm to finish the test pattern generation for crosstalk-induced delay faults.By using backtrace and backtrack of FAN algorithm,the efficiency of test generation algorithm has be improved.

关 键 词：串扰 时延 FAN算法 测试矢量生成 

分 类 号：TP302[自动化与计算机技术—计算机系统结构]