LaBaMnO薄膜磁性测量中抗磁性衬底的扣除  

作　　者：侯碧辉[1] 彭鹏[1] 易俗 许勤论 陈慧余[1] 沈保根[2] 

机构地区：[1]中国科学技术大学,合肥230026 [2]中国科学院物理所

出　　处：《物理测试》1998年第3期30-32,共3页Physics Examination and Testing

摘　　要：在测量抗磁性衬底LaAlO_3上外延生长的磁性薄膜LaBaMnO的磁性时,可从M-H曲线中强磁场部分直接得出衬底的磁化率,从而可在磁性测量的结果中逐点扣除衬底的影响,得到磁性薄膜本身的M—H曲线和M—T曲线。

关 键 词：薄膜 衬底扣除 抗磁性 磁性测量 磁性材料 

分 类 号：TM270.145[一般工业技术—材料科学与工程] TM270.6[电气工程—电工理论与新技术]