复合结构随机存贮器校验  

作　　者：高亚辉 张爱民 王苏林 毛进宇 

机构地区：[1]驻马店地区建筑质量监督站,驻马店463000 [2]驻马店市建筑勘察设计院,驻马店463000

出　　处：《河南城建高等专科学校学报》1998年第2期35-38,共4页Journal of Henan Urban Construction Junior College

摘　　要：以16×4的复合结构RAM为例,讨论了常规RAM自测试算法的局限性,并给出了克服这一局限性的校验算法.

关 键 词：随机存贮器 复合结构RAM 测试 计算机 

分 类 号：TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构]