用GUPIXWIN软件解谱的PIXE分析系统刻度  被引量:3

Calibration of PIXE System Using GUPIXWIN Software Package for Analyzing Spectra

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作  者:于令达[1] 王广甫[1,2] 朱光华[1] 

机构地区:[1]北京师范大学核科学技术学院射线束技术与材料改性教育部重点实验室,北京100875 [2]北京市辐射中心,北京100875

出  处:《原子能科学技术》2010年第1期75-79,共5页Atomic Energy Science and Technology

基  金:国家自然科学基金资助项目(10435020)

摘  要:使用标准样品比较法,通过计算校正GUPIXWIN中的刻度因子H,对使用GUPIXWIN软件解谱的PIXE分析系统进行了刻度。分析了测得的H值随能量变化的原因,并用刻度后的PIXE系统分析了1组大气颗粒物样品。将GUPIXWIN分析结果与AXIL解谱的结果进行了比较,绝大多数测量结果相对偏差在±10%以内。H factor in GUPIXWIN software was calibrated for a PIXE system by using standard samples.The reasons for H value being dependent upon X-ray energy in low energy region were discussed.Four aerosol samples were analyzed using GUPIXWIN on the calibrated PIXE system.The results were compared with the ones given by AXIL,and the relative deviations between the two sets of results are generally within ±10%.

关 键 词:PIXE分析 刻度 GUPIXWIN软件 

分 类 号:TL52[核科学技术—核技术及应用]

 

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