偏振干涉成像光谱仪中CCD的成像分析  

作　　者：白鹏[1] 李洁[1] 姚香檀[1] 

机构地区：[1]西安工业大学数理系,陕西西安710032

出　　处：《科技信息》2010年第13期36-36,42,共2页Science & Technology Information

摘　　要：光谱仪采集目标像的干涉图最终需要通过CCD系统来成像,为了能得到更高的图像分辨率和成像质量,需要不断优化CCD成像系统,偏振干涉成像光谱仪CCD成像系统一般包含两个部分:一是通常所说的光学成像系统,另一部分是CCD图像传感器采样记录系统。本文通过分析和描述CCD的采样过程,来讨论光谱在CCD成像过程中的频谱传输特性,并论述由于离散采样过程带来的频谱混迭对CCD成像系统中成像质量的影响。

关 键 词：偏振干涉成像光谱仪 CCD 成像 

分 类 号：O435[机械工程—光学工程]