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作 者:张建华[1] 张传飞[1] 胡孟春[1] 彭太平[1] 王振通[1] 唐登攀[1] 赵广军[2]
机构地区:[1]中国工程物理研究院核物理与化学研究所,绵阳621900 [2]中国科学院上海光学精密机械研究所,上海201800
出 处:《核技术》2010年第6期469-472,共4页Nuclear Techniques
摘 要:Ce:YAG闪烁晶体对在脉冲γ射线测量有重要应用,本文研究其γ射线相对能量响应。用Compton散射原理把强60Co源分解成若干单能点γ射线源,测定了国产Ce:YAG闪烁晶体的γ射线相对能量响应,将结果与质能吸收系数的数值计算结果相比较,两者在实验测量不确定范围内符合得很好。结果表明,用质能吸收系数进行无机闪烁晶体的γ射线相对能量响应的数值计算方法可靠,Compton散射原理提供较合适的单能γ射线辐射源以实验刻度无机闪烁晶体的γ射线的相对能量响应的方法也可行,可用于检验数值计算结果的可靠性。Gamma-ray relative energy response of Ce:YAG crystal, which is important for pulsed γ-ray measurement, was studied in this work. The Ce:YAG crystal, which was developed at Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, was aligned point by point with γ-rays scattered from an industrial 69Co line source. The γ-ray relative energy response was calculated using the mass attenuation coefficient. The results show that the numerical calculation method of γ-ray relative energy response is reliable, and the experimental method with multi-energy point γ-ray by Compton scattering is also feasible, that can be used for checking up correctness of the numerical calculation results.
关 键 词:脉冲γ射线测量 Ce:YAG闪烁晶体 γ射线相对能量响应 COMPTON散射 质能吸收系数
分 类 号:TL812[核科学技术—核技术及应用] TL816
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