含负折射率介质的新型微腔器件光学性能研究  

Optical Properties of the New MOLED Containing Negative Refractive Index Dielectric Layer

作　　者：闫玲玲[1] 张利伟[1] 蔡红新[1] 李宏建[2] 

机构地区：[1]河南理工大学物理化学学院,河南焦作454000 [2]中南大学物理科学与技术学院,湖南长沙410083

出　　处：《光学学报》2010年第6期1800-1803,共4页Acta Optica Sinica

基　　金：湖南省杰出青年科学基金(03JJY1008);中国博士后科学基金(2004035083);湖南省自然科学基金(05JJ20034);河南理工大学博士基金(B2009-88);河南理工大学青年基金(Q2008-49)资助课题

摘　　要：将负折射率介质引入到微腔有机电致发光器件(MOLED)中,利用传输矩阵法对这种器件的反射率大小、入射角度特性、器件厚度对发射峰的影响以及电致发光(EL)光谱性质进行了分析和讨论。结果表明,与普通的均由正折射率介质构成的MOLED相比,新型微腔器件的入射角度特性和EL谱均优于普通微腔器件,并且发射谱受器件厚度的影响很小。因此这种微腔器件的厚度可以做的很薄,有利于薄膜器件的进一步优化。A new cavity structure containing negative refractive index dielectric layer is introduced into microcarity organic light-emitting devices（MOLED）.Based on the transfer matrix method,the reflectance spectrum,the relation between the reflectance and incident angles and the dependence of electric luminescence（EL）spectra on cavity thickness were analyzed and discussed.The results show that the new MOLED have broader reflection band and better angular property than that of ordinary MOLED,compared to the same structure MOLED containing positive refractive index dielectric layer.The cavity thickness has little effect on the EL spectrum.So the thickness of the MOLED can be very thin.The new structure is beneficial for improving the properties of the MOLED.

关 键 词：发光器件 负折射率介质 EL谱 传输矩阵法 微腔有机电致发光器件 

分 类 号：TN383.1[电子电信—物理电子学]