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作 者:闫玲玲[1] 蔡红新[1] 赵晓霞[1] 张利伟[1] 李宏建[2]
机构地区:[1]河南理工大学物理化学学院,河南焦作454000 [2]中南大学物理科学与技术学院,湖南长沙410083
出 处:《发光学报》2010年第3期337-340,共4页Chinese Journal of Luminescence
基 金:国家自然科学基金(10904032);中国博士后科学基金(2004035083);湖南省自然科学基金(05JJ20034);河南理工大学博士基金(B2009-88);河南理工大学青年基金(Q2008-49)资助项目
摘 要:将负折射率介质层(NRIDL)引入到微腔有机电致发光器件(MOLEDs)中,设计了新型的微腔器件。利用传输矩阵法对此器件的反射率大小、器件厚度对发射峰的影响以及电致发光(EL)光谱性质进行了分析和讨论。结果表明:与普通微腔器件相比,新型微腔器件的谱线宽度显著窄化,峰值强度明显增强,并且受腔体长度的影响较小。这些结果为进一步提高微腔器件的发光色纯度、薄化器件厚度提供了新方法。The negative refractive index dielectric(NRID) was introduced into the microcavity organic lightemitting device(MOLEDs).The new microcavity containing negative refractive index dielectric layer(NRIDL) was exhibited.Firstly,the transmission matrix model of the negative refractive index dielectric was presented.Based on the transfer matrix method,the reflectance spectrum,the dependence of EL spectra on cavity thickness were analyzed and discussed.The results showed that the line widths of the spectra of the new MOLED are narrower and all the peaks are enhanced,comparing to the electroluminescence spectra of non-NRIDL device.And then,the luminescence characteristics and EL spectra of the microcavity OLEDs are theoretically studied.The cavity thickness has few effect on the EL spectrum.All the results show that it is a new way to enhance device efficiency,color purity and thinned the thickness of the MOLEDs.
关 键 词:负折射率介质层 EL谱 传输矩阵法 MOLEDs
分 类 号:TN383.1[电子电信—物理电子学]
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