现代X射线荧光光谱仪的进展  

Progress in the Modern X-Ray Fluorescence Spectroscopy

作　　者：谢荣厚[1] 高新华[1] 盛伟志 丁志强 

机构地区：[1]钢铁研究总院,北京100081 [2]自动化研究所,北京100071

出　　处：《冶金分析》1999年第1期32-36,共5页Metallurgical Analysis

摘　　要：近年来Ｘ射线荧光光谱分析有了长足的进步，特别在数据处理以及其关键部件，如Ｘ射线管、晶体等方面．分析检出限已达ｎｇ级，成为现代分析技术的一种重要手段．The development of X-ray fluoasocncc spotroscopy in various aspects induding new software, instrumentation has the reviewh with emphasis on X-ray tube, cantals etc, nanogrdm level trace elements analysis are possible.

关 键 词：X射线 XRF 光谱仪器 光谱分析 

分 类 号：TH744.16[机械工程—光学工程]