上海光源先进成像技术及应用  

作　　者：谢红兰[1] 邓彪[1] 杜国浩[1] 彭冠云[1] 付亚楠[1] 郭瀚[1] 和友[1] 朱文选[1] 肖体乔[1] 

机构地区：[1]中国科学院上海应用物理研究所,201204

出　　处：《现代物理知识》2010年第3期42-50,共9页Modern Physics

摘　　要：由于X射线波长比可见光短得多，用它来进行成像时，在理论上分辨率要比可见光高2～4个量级。而且X射线的穿透性较强，可对厚样品的内部结构进行无损检测，这是其他各种显微术所不具备的。自从伦琴1895年发现X射线以来，传统的X射线成像技术已有上百年的历史，已成为医学、生物学及材料科学中不可或缺的诊断工具，它们大部分都是以吸收衬度为基础的，图像的衬度是由于样品的密度分布差异、组成以及厚度的不同对X射线的吸收不同而引起的。

关 键 词：X射线成像技术 应用 光源 上海 无损检测 内部结构 诊断工具 材料科学 

分 类 号：TN248.4[电子电信—物理电子学]