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作 者:周文平[1] 万松明[1] 张庆礼[1] 殷绍唐[1] 尤静林[2] 王媛媛[2]
机构地区:[1]中国科学院安徽光学精密机械研究所,合肥230031 [2]上海大学上海市钢铁冶金新技术开发应用重点实验室,上海200072
出 处:《物理学报》2010年第7期5085-5090,共6页Acta Physica Sinica
基 金:国家自然科学基金(批准号:50472104)资助的课题~~
摘 要:测量了KTa1-xNbxO3(KTN)晶体在常温和高温下的Raman光谱;实时测量了晶体生长过程中,固/液边界层内以及边界层两侧的晶体和熔体的高温显微Raman光谱.通过光谱分析获得了KTN晶体生长固/液边界层内的结构特征,以及晶体生长基元从熔体结构经边界层过渡到晶体结构的变化规律.研究表明,KTN熔体中的[Ta/NbO3]结构基团进入到生长边界层后逐步转化为[Ta/NbO6]八面体结构基团,已具有KTN单胞的一些特征.进而讨论了以[Ta/NbO6]八面体为生长基元的KTN晶体有(100),(100),(010)和(010)晶面容易显露的生长习性,发现KTN晶体生长固/液边界层厚度约为80—90μm.Raman spectra of KTa1-x NbxO3(KTN) single crystal,its melt,and the solid-liquid boundary layer in the growing process at different temperatures were measured in-situ.The structure transformation in KTN crystal growth process was investigated.The results showed that the [Ta/NbO3]entities came into solid-liquid boundary layer from KTN melt,and they were transformed to [Ta/NbO6]octahedron entities.And the structure of [Ta/NbO6]octahedron entity was just like that of KTN single cell.Regarding [Ta/NbO6]octahedron as growth units,the growth habit of KTN crystal in which the(100),(100),(010) and(010) faces are easily revealed was discussed.The thickness of the growth solid-liquid boundary layer of KTN crystal was about 80—90 μm.
关 键 词:KTa1-xNbxO3晶体 固/液边界层 高温Raman光谱 实时测量
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