两腔高功率微波振荡器的频率束流负载效应研究  

Investigation of beam-loaded frequency shifts in a two-cavity high power microwave oscillator

作　　者：杨振萍[1] 边清泉[2] 

机构地区：[1]西南科技大学理学院,绵阳621010 [2]绵阳师范学院,绵阳621000

出　　处：《中国科学：物理学、力学、天文学》2010年第7期891-895,共5页Scientia Sinica Physica,Mechanica & Astronomica

基　　金：国家自然科学基金重点项目资助(批准号:10347009);四川省教育厅项目(编号:09ZC019);绵阳市科技局自然科学重点项目(编号:09Y001-1)资助

摘　　要：在微波腔中电子束与微波场的相互作用,微波场影响电子的运动,同时电子束作为电流源也产生辐射影响微波场,是一个闭环系统.而辐射微波频率决定于两个因数:电子束的运动和微波器件的谐振频率.根据电子束同微波场之间的自洽互作用过程,给出了辐射微波频率同电子束的运动、微波器件的谐振频率之间的关系,通过2.5维PIC模拟研究了这种频率束流负载效应的特点,理论计算结果同数字模拟结果一致.When a beam passes a cavity,a rf field will be excited,which can convert the beam＇s electron energy into the rf field.The rf frequency is determined by two factors： electron’s movement and the cavity’s resonant frequency.A self- consistent analysis is carried out to study this relation,and a beam-loaded frequency shift is found to be present in the high power microwave oscillator bitron.Particle-incell simulation is also used to study the characteristics of the shift.The calculated beam-loaded frequency shift agrees with the simulated values.

关 键 词：高功率微波 两腔高功率微波振荡器 频率束流负载效应 

分 类 号：TN752.5[电子电信—电路与系统]