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作 者:张羽廷[1] 张鹏程[1] 谢东华[2] 王庆富[1,2] 刘婷婷[1]
机构地区:[1]表面物理与化学国家重点实验室,四川绵阳621907 [2]中国工程物理研究院,四川绵阳621900
出 处:《稀有金属材料与工程》2010年第A01期501-503,共3页Rare Metal Materials and Engineering
基 金:中国物理研究院双百人才资助项目(双2008-2)
摘 要:采用扫描电镜(SEM),能谱仪(EDS),X-射线衍射仪(XRD)等方法,研究了U上磁控溅射Ti镀层在600℃,0.5h,150MPa条件下热等静压(HIP)处理对其表面界面特性及界面扩散的影响。结果表明:经HIP处理后,镀层致密性提高,膜基结合强度也提高,U、Ti在界面的扩散受到压力的抑制。Effect of hot isostatic pressing (HIP) on characteristics of titanium coating on uranium substrate, which were prepared by magnetron sputtering, and treated under the condition of 600 ℃, 0.5 h, 150 MPa were investigated by scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive spectrometer (EDS), X-ray diffraction (XRD). The results show that the coating gets compacter, adhesion strength increases, and the interdiffusion of U and Ti is suppressed.
分 类 号:TG174.44[金属学及工艺—金属表面处理]
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