间歇寿命试验方法和技术  

作　　者：王俊祥 

机构地区：[1]中国兵器工业第214研究所,蚌埠233042

出　　处：《集成电路通讯》2010年第2期25-29,共5页

摘　　要：GJB548A-96和GJB548B-2005对间歇寿命试验的规定都比较简单，本文较详细地介绍间歇寿命试验方法和技术以及用555定时器制作一个能满足试验要求的使器件受“开”和“关”之间的电应力周期变化的“时间开关”，并给出其在间歇寿命试验中的应用。

关 键 词：间歇寿命 时间开关 555定时器 可靠性 

分 类 号：O213.2[理学—概率论与数理统计]