基于J750测试系统的HS3282发送功能测试  被引量:2

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作  者:魏志刚 徐居明 吴丽 

机构地区:[1]中航工业空空导弹研究院,洛阳471009

出  处:《现代测量与实验室管理》2010年第4期14-16,共3页

摘  要:主要阐述了使用美国Teradyne公司生产的J750大规模集成电路测试系统测试HS3282协议芯片发送功能的具体方法。详细论述了J750测试系统的主要特点,开发、调试HS3282发送功能的一般步骤,给出了具体的接口电路、测试程序,介绍了测试中可能出现的问题以及调试方法。

关 键 词:J750大规模集成电路测试系统 HS3282协议芯片 发送功能 429总线 

分 类 号:TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

参考文献:

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引证文献:

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