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作 者:安白[1] 马莒生[1] 唐祥云[1] 张成俊 边德富 高宗盛
出 处:《上海钢研》1990年第3期6-16,共11页Journal of Shanghai Iron and Steel Research
摘 要:本文利用SEM、AES、EDAX及微区X射线衍射等分析手段,对显象管用阳极帽出现的辉斑缺陷进行了较为系统的研究。指出辉斑组分为Ca、si、Al,Fe、O等,组成为β·(Ca,Fe)O·SiO_2,5CaO·2SiO_2·9(Fe,Al)_2O_3等低熔共晶复合氧化物,并通过系列氧化实验揭示了辉斑出现的规律性,提供了消除辉斑的“二次氧化”法工艺。
分 类 号:TN141.3[电子电信—物理电子学]
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