聚合物绝缘电热联合老化的陷阱理论和实验验证  

TRAP THEORY OF COMBINED AGING UNDER ELECTRICAL AND THERMAL STRESS IN POLYMERS AND ITS TEST VERIFICATION

作　　者：李忠华[1] 尹毅[1] 朱军 屠德民[1] 

机构地区：[1]西安交通大学电气绝缘研究所

出　　处：《中国电机工程学报》1999年第2期70-74,共5页Proceedings of the CSEE

基　　金：国家教委博士点基金

摘　　要：基于聚合物电老化陷阱理论和自由基反应动力学，推导出聚合物在电热联合老化条件下的寿命公式，并通过对聚丙烯薄膜的电热联合老化寿命数据和聚乙烯不同温度下电树枝起始电压数据的统计分析，理论公式得到了实验验证。Based on the trap theory of electrical aging in polymers and the reaction dynamics of free radicals, the life formula of combined aging under electrical and thermal stresses in polymers in deduced in this paper. The theoretic formula are verified by the aging test of PP films and the Treeing initial test of PE.

关 键 词：绝缘 聚合物 电热联合老化 陷阱理论 

分 类 号：O631.3[理学—高分子化学]