nn^＋结构消除CMOS电路自锁效应的探讨  

作　　者：陈石龄 裘本初 

出　　处：《上海科技大学学报》1990年第4期39-42,共4页

关 键 词：集成电路 COMS电路 自锁 消除 

分 类 号：TN432[电子电信—微电子学与固体电子学]