外延铁电薄膜相变温度的尺寸效应  

Size effect on phase transition temperature of epitaxial ferroelectric films

作　　者：周志东[1] 张春祖[2] 张颖[1] 

机构地区：[1]厦门大学材料学院材料科学与工程系,厦门361005 [2]厦门大学建筑与土木工程学院土木工程系,厦门361005

出　　处：《物理学报》2010年第9期6620-6625,共6页Acta Physica Sinica

基　　金：国家自然科学基金(批准号:10802070和10972188);厦门大学人才引进基金资助的课题~~

摘　　要：考虑外延钙钛矿型铁电薄膜内的等效应力、表面晶格变化和表面电荷引起的退极化效应等机电耦合边界条件,利用铁电薄膜系统的动态金茨堡-朗道方程(DGL),系统分析和讨论了外延铁电薄膜相变温度与临界相变厚度的尺寸效应.结果表明,铁电薄膜相变温度与临界相变厚度完全依赖于各种与薄膜厚度相关的力电耦合边界条件.也给出了BaTiO3外延铁电薄膜相变温度在各种边界条件下随厚度的变化,从结果看出,本文的分析与结论更符合实验数据.In this paper the phase transition temperature of epitaxial ferroelectric thin film is analyzed and discussed systematically via the dynamic Ginzburg-Landau （DGL） equation by taking the effective interior stress,surface eigenstrain relaxation and depolarization field. When the thickness of ferroelectric film is changed,external and internal factors, which affect phase transition temperature of ferroelectric thin films,are presented to explain the experimental observations. There is a good quantitative agreement between the theoretical results and experimental data for BaTiO3 thin film epitaxially grown on SrTiO3 substrate.

关 键 词：尺寸效应 外延铁电薄膜 相变温度 力电耦合边界 

分 类 号：O484[理学—固体物理]