毫米波椭偏法测量介质的复介电常数  

Ellipsometry for Measurement of Complex Permittivity of Materials in Millimeter-Wave Band

作　　者：李素萍[1] 王子华[1] 张友俊[2] 张胜[1] 李铭祥[3] 李英[1] 

机构地区：[1]上海大学通信与信息工程学院,上海200072 [2]上海海事大学信息工程学院,上海200135 [3]上海大学电子物理研究所,上海201800

出　　处：《上海大学学报（自然科学版）》2010年第4期371-375,共5页Journal of Shanghai University:Natural Science Edition

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60571054);上海大学研究生创新基金资助项目(SHUCX080153);上海市教委支出预算资助项目(2008101)

摘　　要：将椭圆偏振测量法(椭偏法)的电磁频谱从原来可见光、红外波段拓展到毫米波段,对毫米波椭偏法测量原理进行理论分析,使用已构建的实验装置进行测量.通过对测量结果的分析,选择合适的入射角,经过大量测试,计算出被测介质材料的复介电常数.The electromagnetic frequency band of ellipsometry is extended from visible light and infrared band to millimeter-wave band. We analyze the measurement principle of ellipsometry in millimeter-wave band, and carry out experiments using a self-buih measurement apparatus. From the measured results, an appropriate incident angle is chosen. We obtain complex permittivity of materials based on a large amount of measured data.

关 键 词：复介电常数 椭圆偏振测量法(椭偏法) 反射系数 毫米波 

分 类 号：TN015[电子电信—物理电子学]