检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]重庆邮电大学通信与信息工程学院,重庆400065
出 处:《电子技术应用》2010年第9期71-73,共3页Application of Electronic Technique
基 金:国家科技重大专项项目"TD-LTE无线综合测试仪表开发"(No.2009ZX03002-009)
摘 要:通过对两种常用CRC校验算法的研究分析,为TD-LTE测试仪表系统选择了一种最优的CRC校验算法,并在TMS320C64xDSP中实现。将CRC校验程序在CCS3.3中运行,其结果验证了算法的可行性、高效性。Based on the LTE(long term evolution) CRC (cyclic redundancy check )codes, this paper researched two algorithms which were used very common. It choosed the most suitable CRC algorithm for the TD-LTE test system, and realized the algorithm in the TMS320C64x DSP. The running results of the CRC check program in CCS3.3 verify that the selected algorithm is feasible and effective.
关 键 词:长期演进 循环冗余校验 查表法 块异或长除法 DSP实现
分 类 号:TN929.5[电子电信—通信与信息系统]
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