DSP功能测试方法研究  

Research on Functional Test Method of DSP

作　　者：高剑[1] 冯建科[1] 郭士瑞[1] 

机构地区：[1]北京自动测试技术研究所,北京100088

出　　处：《计算机与数字工程》2010年第9期28-30,40,共4页Computer & Digital Engineering

基　　金：北京市科学技术研究院创新团队计划支持项目(编号:IG200806C1)资助

摘　　要：随着数字信号处理器(DSP)性能和集成度迅速地提高,DSP产品得到了日趋广泛的应用。文章首先介绍了DSP的基本结构,其次详细分析了DSP功能测试的方法,特别是研究了由测试系统模拟外部程序存储器加载程序的并行测试算法,最后讨论了为使用相同指令集的DSP自动生成测试图形的算法。上述算法具有直观、编程灵活、开发周期短的特点。With the rapid development of performance and integration of the digital signal processor, the production based on DSP is applied abroad. In this paper, we introduce the common structure of the DSP first, and then discuss the functional test method, especially DSP parallel test algorithm for simulating external program memory loading programs by ATE, finally we discuss the automatic test pattern generation algorithm for DSPs which use the same instruction set. Our method is intuitive,programming flexiblility, and has short development cycles.

关 键 词：功能测试 数字信号处理器 并行测试 图形 

分 类 号：TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]