超净高纯试剂与紫外光刻胶  被引量:4

PROCESS CHEMICALS AND UV PHOTORESIST.

在线阅读下载全文

作  者:孙世铭[1] 

机构地区:[1]北京化学试剂研究所

出  处:《精细与专用化学品》1999年第10期8-10,1,共3页Fine and Specialty Chemicals

摘  要:超净高纯试剂和紫外光刻胶作为IC生产工艺中的关键材料,随着IC生产向亚微米和深亚微米方向发展,对他们提出了新的要求。As key materials in IC production process, process chemicals and photoresists are expected to meet new demands with t he development of IC towards sub - micrometer and deep sub -micrometer.

关 键 词:超净高纯试剂 紫外光刻胶 试剂 集成电路 

分 类 号:TN4[电子电信—微电子学与固体电子学] TQ421.4[化学工程]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象