HXMT高能电子学测试系统的研制  

Development of the Test System for ES/HE of HXMT

作　　者：余庆龙[1,2,3] 张智[1,2,3] 季建峰[1,2,3] 刘聪展[1,2,3] 

机构地区：[1]清华大学工程物理系,北京100084 [2]清华大学粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京100084 [3]清华大学高能辐射成像国防重点学科实验室,北京100084

出　　处：《核电子学与探测技术》2010年第8期1003-1007,1021,共6页Nuclear Electronics & Detection Technology

基　　金：973项目"黑洞以及其它致密天体物理的研究"(2009CB824800);国家自然科学基金重点项目"基于光电效应的空间X射线偏振仪研究"(10978001)支持

摘　　要：介绍了为正在研制的HXMT高能电子学系统(ES/HE)研制的一套专用的测试系统。分析了测试系统功能需求,对测试系统进行了整体设计,并着重描述了测试系统中几个主要功能模块的实现原理及方法。The project offers a specifically test system for the ES/HE of HXMT which is being developed. Therefore, the author analyzes the demands of the system so as to make an integrated design for it. Meanwhile, theories and methods to implement the main parts of the system are also emphatically described.

关 键 词：HXMT 测试系统 复合晶体探测器 LVDS.USB 

分 类 号：TP202[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]