双极型集成电路可靠性技术  

Reliability Technology for Bipolar Integrated Circuits

作　　者：罗俊[1] 秦国林[1] 邢宗锋[1] 李志强[2] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆400060 [2]中国科学院微电子研究所,北京100029

出　　处：《微电子学》2010年第5期747-753,共7页Microelectronics

摘　　要：介绍了影响双极型集成电路可靠性的主要因素,重点分析了当前国内外双极型集成电路可靠性的研究方法。通过在设计、工艺、原材料和元器件等方面采取对策和措施,可达到提高双极型集成电路可靠性的目的。Major problems associated with reliability of bipolar ICs were discussed.Techniques to investigate reliability of bipolar IC＇s were described in particular.It is concluded that the reliability of bipolar IC＇s could be improved by using proper design techniques or processing technologies,and choosing right materials or components.

关 键 词：双极型集成电路 可靠性 失效模式 辐射加固 

分 类 号：TN431[电子电信—微电子学与固体电子学] TN406