检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所,北京100095
出 处:《工业计量》2010年第5期10-13,共4页Industrial Metrology
基 金:发明专利CN101614861A
摘 要:文章针对长度光栅测量系统的误差来源、特点提出了二次比对、拟合的修正方法。在文章所论述的方法中,通过光电显微镜、线纹尺、数据拟合工具将光栅位移长度溯源到激光波长;将生成的修正公式赋进长度光栅测量系统的程序中完成误差自动修正。文章提出的光栅测长系统的误差修正方法原理简单、实用、修正精度高。对于三坐标测量机、测长机、万工显等精密直线位移平台都具有借鉴和参考价值。According to Source and feature of error for length grating measuring system,correction methods of comparison and fitting are discussed.In mentioned method,displacement length of grating was traced back to laser wavelength via photoelectronic microscope,line scale and data fitting tool.The correction method is designated to program of length grating measuring system to achieve automatic correction of error.The correction method is simple in principle and practical,and correction accuracy is high.For three-coordinate measaring machine,length measuring machine,a variety of precision linear displacement platforms,the method has important reference and consultation value.
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.222