检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]西安石油大学光电油气测井与检测教育部重点实验室,陕西西安710065
出 处:《电子元器件应用》2010年第10期12-14,共3页Electronic Component & Device Applications
基 金:陕西省科技厅自然科学基金(2007D01)
摘 要:为了测试电路系统的频率响应特性,通常需要在电路系统输入端加上不同频率的激励,然后再测量电路的输出以得到频率响应函数。文中介绍了由单片机和DDS构成的频率响应测试仪设计方法,同时给出了单片机中的软件处理流程。试验结果表明,本测试仪测量精度高,操作方便。
关 键 词:AD9834频率响应 测试仪 单片机 C8051F060
分 类 号:TP212[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.249