一种新的电路故障自主仿真系统的研究与开发  

A New Low-cost Automated Circuit Fault Emulation System

作　　者：李树平[1] 

机构地区：[1]牡丹江师范学院计算机科学与技术系,黑龙江牡丹江157012

出　　处：《计算机测量与控制》2010年第9期2016-2018,共3页Computer Measurement &Control

基　　金：黑龙江省教育厅科研项目(11531389)

摘　　要：在航空航天等面临恶劣外部辐射环境的应用中,要特别考虑由空间辐射引发的单粒子翻转事件(Single-Event Upset)对数字电子系统带来的影响,必须对电子系统进行抗SEU性能的评估,以保证系统的可靠性;提出了一种新的SEU故障注入仿真平台;不同于传统的软件故障仿真方法,该平台基于FPGA来进行故障注入仿真,具有成本低、自主工作及测试快速的特点;实验显示单个SEU故障注入仅耗时46μs。Designers must be careful of Single-Event-Upsets（SEUs） effect in the field of avionics and space application where electronic system faces ruthless environment.A designed electronic system＇s SEU susceptibility must be evaluated to ensure reliability.A new SEU fault emulation platform is proposed.The emulation system has features of low-cost,automated emulation,perform fast and efficiently.That is quit different from traditional software-based simulation method.Experimental result shows that a single SEU fault injection only needs 46μs.

关 键 词：故障注入 单粒子翻转事件 可编程逻辑器件 重配置 

分 类 号：V443[航空宇航科学与技术—飞行器设计]