电子装备测试性分析关键技术研究  

Critical Technologies for Testability Analysis of Electronic Equipment

作　　者：李鸣[1] 高娜[1] 姜为学[2] 

机构地区：[1]军械工程学院,石家庄050003 [2]桂林空军学院,广西桂林541001

出　　处：《电光与控制》2010年第11期49-51,64,共4页Electronics Optics & Control

基　　金：军械工程学院科学研究基金项目(YJJXM08018)

摘　　要：针对目前国内测试性分析的理论较杂,缺少综合、适用的分析系统的问题,研究了利用功能—行为—结构(FBS)模型描述测试性的技术,提出了基于故障模式、影响和危害性分析法,利用FBS模型进行测试性分析,构建了测试性层次型预计体系。The domestic theory of testability analysis is disorderly and unsystematic,and there isn＇t an integrated and applicable analysis system for use.The technology describing testability information by using Function-Behavior-Structure（FBS） model was studied.And the method that use FBS relational database model was put forward for testability analysis based on ＂Failure Mode,Effects and Criticality Analysis（FMECA）＂ method,and a hierarchy system for testability anticipation was built up.

关 键 词：故障测试 故障隔离 电子设备 测试性分析 测试性建模 

分 类 号：V243[航空宇航科学与技术—飞行器设计]