基于多参数存储测试技术的智能事件记录仪的设计  被引量:3

Design of Intelligence Event Recorder Based on Multi-parameters Memorized Testing and Measurement Technology

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作  者:赵庆海[1] 刘源[1] 侯和平[1] 栾玉敏[1] 

机构地区:[1]西安理工大学印刷包装工程学院,陕西西安710048

出  处:《仪表技术与传感器》2010年第9期24-26,共3页Instrument Technique and Sensor

摘  要:介绍了一种基于AT89S52单片机所构成的多参数存储测试系统的智能事件记录仪样机,提高运输包装事件的分析能力。采用MTx传感器采集多参数数据,使用U盘为存储设备用以存储MTx(motion tracker)传感器采集到的大量多参数数据,并配备相应的软件用以绘制以时间为基轴的三维加速度、三维转角率、三维地磁场、温度等多参数的曲线图进行数据还原。文中给出了相应硬件电路以及下位机软件的设计,绘制出了数据还原的曲线图,成功验证了试验样机的可行性。This paper introduced a kind of design for a prototype intelligence event recorder used on the composition of AT89S52 single chip microcomputer,and based on multi-parameters memory testing technology,improved the analysis skills of transport packaging events.It used MTx sensor to acquire multi-parameters data,used USB flash disk as storage device for storing a large number of multi-parameters data collected with MTx(motion tracker) sensor.Equipped with mapping software for time-based three-dimensional axis accelerometer,three-dimensional rotation rate,three-dimensional magnetic field and temperature parameters for data reduction curve.It presented the hardware circuitry,microcomputer software design,and gave the restore of data graphics to verity the feasibility of the prototype.

关 键 词:多参数数据 MTx传感器 存储测试技术 智能事件记录仪 

分 类 号:TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]

 

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