BaSi_2晶体结构及X射线衍射谱的研究  

Study on the structure and X-ray diffraction pattern of orthorhombic BaSi_2

作　　者：郝正同[1,2] 谢泉[1] 杨子义[1] 

机构地区：[1]贵州大学理学院,新型光电子材料与技术研究所,贵州贵阳550025 [2]绵阳师范学院物理与电子工程学院,四川绵阳621000

出　　处：《功能材料》2010年第10期1816-1819,共4页Journal of Functional Materials

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60566001;60766002);科技部国际合作专项资助项目(2008DFA52210);贵州省信息产业厅资助项目(0831);贵阳市科技计划资助项目(2009筑科大合同字第6号);贵州省科学技术基金资助项目(黔科合J字[2010]2002号)

摘　　要：基于汤姆逊弹性散射理论导出了计算衍射峰强度的具体表达式,计算并得到了BaSi2粉晶的X射线衍射谱图,研究了影响粉晶X射线衍射谱线位置、强度和形状的因素。给出了校验及修正粉晶衍射谱图的可靠方法。A specific formula to calculate intensity of X-ray diffraction is deduced based on thomson scattering theory,and the XRD pattern of orthorhombic BaSi2is carried out,then the location,intensity and shape of peaks in the X-ray diffraction pattern have been studied.This method can be used to verify the reliability of XRD pattern in powder diffraction file database.

关 键 词：BaSi2 晶体结构 X射线衍射 衍射强度 布拉格角 

分 类 号：TG115.22[金属学及工艺—物理冶金]