锰硅X荧光光谱分析的研究  

Study on the Analysis of Manganese-Silicon by X Flourescence Spectroscopy

作　　者：孙春丽[1] 郑建道[1] 万冬林[1] 王兆利[1] 杜超伶[1] 

机构地区：[1]安阳钢铁公司质量处,河南安阳455004

出　　处：《甘肃冶金》2010年第5期129-130,132,共3页Gansu Metallurgy

摘　　要：选用最佳制样时间控制试样粒度;在一定压力条件下,用特制合金样托压制MnS i试样;采用标样控制仪器状态,分析总量控制分析准确度的方法,提高锰、硅的分析准确度,压片分析值与化学值相比,结果良好。The best sample preparation time control sample size;in certain pressure conditions,a special kind of care to suppress MnSi alloy specimen;the state standard sample control instruments,Analysis of the total control analysis methods to improve manganese,silicon analysis of accuracy,so that analysis of the value tablet,compared with the chemical value of a good result.

关 键 词：粒度 准确度 分析总量 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学]