干涉图数据处理的一种方法  被引量:4

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作  者:李全臣[1] 夏亮[1] 

机构地区:[1]北京理工大学颜色科学与工程国家实验室

出  处:《计量技术》1999年第3期3-5,共3页Measurement Technique

摘  要:介绍一种以计算机技术和光电技术相结合的干涉计量方法。该方法可将干涉条纹以Windows位图格式采集存入计算机,通过软件对干涉图形进行处理,给出被检波前或被检光学面的解析表达式,这是一种精确的定量分析方法。

关 键 词:干涉图 CCD探测器 图像卡 数据处理 光干涉计量 

分 类 号:TH744.3[机械工程—光学工程]

 

参考文献:

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引证文献:

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