一种测量光具组基点的新方法  

作　　者：史海青[1] 刘竹琴[2] 

机构地区：[1]陕西能源职业技术学院基础部,陕西咸阳712000 [2]延安大学物理与电子信息学院,陕西延安716000

出　　处：《延安职业技术学院学报》2010年第5期59-61,共3页Journal of Yan’an Vocational & Technical College

摘　　要：介绍了一种测量光具组基点的新方法。由于采用线阵光电耦合器件(CCD)测量物经光学系统成像的横向放大率,使实验具有精度高、操作简便等优点。

关 键 词：光具组 基点 横向放大率 

分 类 号：O435.2[机械工程—光学工程]