防伪技术的新突破——核径迹防伪技术  

BREAKTHROUGH IN FAKE PREVENTIONNUCLEAR TRACKETCHING

作　　者：严玉顺[1] 何向明[1] 张泉荣[1] 

机构地区：[1]清华大学核能技术设计研究院

出　　处：《物理》1999年第5期295-298,共4页Physics

基　　金：国家教育部科学基金

摘　　要：用核粒子照射塑料薄膜形成径迹，再经化学试剂蚀刻和成像技术，得到由微米级微孔组成的图案．这种图案具有物质透过特性．用这种方法生产的核径迹防伪标志，具备核尖端技术不易扩散，制作设备不易得到，产品用其他方法难以伪造，防伪识别简单、快速、可靠等特点．此种标志已经通过放射性安全检测。Nuclear particle track-etched anti-counterfeit marking is a new weapon against fake products.The mark is manufactured by intricate high technology in state-controlled sensitive nuclear facilities which ensures that the mark can not be copied.The pattern of the mark is characterized by its permeability,and can be distinguished from fakes by using a transparent liquid(e.g.water),colored pen or chemical reagent.The technique has passed the official health safety examination and poses no danger of nuclear irradiation.

关 键 词：核径迹 防伪技术 商品包装 核孔膜 

分 类 号：F716[经济管理—产业经济] F760.3