检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]电子科技大学自动化学院,成都610054 [2]中国铁道科学研究院电子计算技术研究所,北京100081
出 处:《电子测试》2010年第10期14-18,共5页Electronic Test
摘 要:集成电路产业是当今社会三大信息产业之一,集成电路技术的飞速发展必然带动集成电路测试设备的不断更新,从而降低集成电路生产成本,提高生产效益。本文给出了一种基于AD5522的模拟集成电路直流参数测试系统设计方案。该方案利用AD5522和AD974构成多通道参数测试环路,设计并实现模拟集成电路直流参数测试系统。实验结果表明,与传统测试设备比较,该测试系统具有结构紧凑、测试速度快、精度高、可操作性强等特点。IC industry is one of three major information industries,the development of IC technology certainly promote the update of IC testing equipment,so that to cut the cost of IC production and improve the production efficiency。A kind of design proposal of DC parameters testing of analog IC based on AD5522 is built in this paper. AD5522 and AD974 are used to constitute multi-channel testing loop,with this,we have designed and realized the DC parameters testing system of analog IC.The experiment results shows that,comparing with the traditional testing equipments,this system is smarter,faster,preciser and more operatable.
分 类 号:TN431.1[电子电信—微电子学与固体电子学]
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