国际微电子计量与测试技术研讨会在武汉成功召开  

作　　者：纪亮 

出　　处：《中国计量》2010年第11期33-33,共1页China Metrology

摘　　要：本刊讯日前,在国家国防科工局科技与质量司及中国船舶重工集团公司的指导下,由国防科技工业微电子一级计量站、武汉数字工程研究所、中国计量测试学会联合主办的国际微电子计量与测试技术研讨会（CMMT2010）在武汉成功召开。

关 键 词：中国计量测试学会 技术研讨会 电子计量 武汉 国际 中国船舶重工集团公司 国防科技工业 数字工程 

分 类 号：TB9-2[一般工业技术—计量学]