检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]昆明理工大学信息工程与自动化学院,云南昆明650051
出 处:《昆明冶金高等专科学校学报》2010年第5期52-56,共5页Journal of Kunming Metallurgy College
基 金:昆明理工大学实验室自制仪器设备项目(10911010)
摘 要:在数字电路实验中,大量使用一些基本系列的数字集成芯片,芯片的好坏和型号需要检测。市场上工程应用型测试仪价格较贵,不能测试实验室中很多数字芯片,且非中文界面显示。综合了现有的各类测试仪的优缺点,采用STC89C516RD+单片机和中文LCD设计了简易数字芯片测试仪系统,能够实现对数字电子技术实验中经常使用的逻辑芯片的好坏判别和型号判别,价格便宜,又能实现中文界面的交互。In digital circuit experiments, basic series of digital integrated circuits chips are extensively used. Quality and type of chips should be tested before use. Engineering-specific testers in the market are expensive and can't test many digital chips in laboratory. Integrating advantages and disadvantages of various existing types of testers and adopting STC89C516RD + SCM and Chinese LCD display, the au- thors designed a simple digital tester system, which could identify the quality and type of logic chips com- monly used in digital electronic technology experiments. Moreover, it is cheap and can achieve the inter- action of Chinese language interface.
分 类 号:TN431.2[电子电信—微电子学与固体电子学]
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